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蛍光X線分析装置

蛍光X線分析装置

メーカー

株式会社リガク

型式

ZSX PrimusIV

仕様・性能

X線検出方式:波長分散型
分析可能範囲:4Be(ベリリウム)~92U(ウラン)
最大試料サイズ:φ52mm、厚さ30mm
分析機能:定性、定量、半定量(SQX)、ポイント分析、マイクロマッピング

用途

試料中にどのような元素がどの割合で含まれているか分析する元素分析装置です。
前処理がほとんど不要で、1回の分析ですべての元素を分析することができます。
マッピング分析を行うことで、試料中の元素の分布も知ることができます。

担当部

材料開発部

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